固体触媒反応を制御するためには，反応中に変化し続ける活性点（触媒作用を起こす部分）の原子構造や電子状態を理解することが必要不可欠です．当研究室ではシンクロトロン分光技術（XAFS, XPS）と電子顕微鏡技術（TEM, STEM, EELS）を融合させた最先端ナノ分析技術の構築にも取り組んでいます．この技術によって固体触媒中の様々な原子構造や化学状態を分離し，活性点の原子構造や電子状態を明らかにしています．また活性点が固体触媒のどの位置に分布しているかを1ナノメートル程度の分解能でマッピングしたり，反応中その場観察（Operando IR・光吸収・発光測定）をすることによって反応メカニズムを解明しています．これら分析技術に支えられて新しい固体触媒の合理的な設計・開発が可能になると考えています．